統計数学セミナー
Seminar on Probability and Statistics
Home : Archive [ 2003 to 04 ] [ 2004 to 05 ] [ 2005 to 06 ] [ 2006 to 07 ] [ 2007 to 08 ] [ 2008 to 09 ] [ 2009 to 10 ] [ 2010 to 11 ] [ 2011 to 12 ] [ 2012 to 13 ] [ 2013 to 14 ] [ 2014 to 15 ]
Previous Seminar : Next Seminar

Seminar on Probability and Statistics
Wednesday February 20 2008
Tokyo 122
4:20-5:30 pm


A Test for Cross-sectional Dependence of Microstructure Noises and their Cross-Covariance Estimator


大屋 幸輔 / OYA, Kosuke
大阪大学大学院経済学研究科 / Graduate School of Economics, Osaka University

Abstract

高頻度観測される約定データにもとづく Integrated Volatility や Integrated Covariance の推定量は Bid-Ask Bounce に代表される Market Microstructure Noise の存在により、バイアスをもち、その分散も過大なものになっている。さ まざまな推定量の改良が提案されているが、それらの多くは Microstructure Noise の dependence の構造を既知としたものである。この従属性の構造を明ら かにするために、本報告では直接観測できない Microstructure Noise の相互自 己共分散がゼロであるかどうかを検定する統計量と相互自己共分散関数の推定量 を提案する。




Previous Seminar : Next Seminar
Seminar on Probability and Statistics